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形状测量激光显微系统（VK-X4000）
形状测量激光显微系统（VK-X4000）

仪器型号VK-X4000

项目简介

VK-X4000三重扫描方式可对金属、玻璃、晶圆等各类工件实现纳米级非接触3D形貌测量。系统功能一键批量采集粗糙度、台阶高度、体积等数据，自动生成标准化检测报告。
广泛用于半导体芯片焊点、PCB线路、精密模具、镀膜薄膜的微观缺陷与尺寸检测，覆盖研发验证与产线品质管控场景。


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