配置参数:
使用非侵入式背散射（NIBS）光学元件，在 0.3nm  到 10μm 的范围内测量粒度。
使用专利 M3-PALS 技术测量胶体和纳米颗粒的 Zeta 电位。
分子量测量最小可达 9,800Da。
光学滤波片，改善荧光样品的测量。
温度范围最高可达 90℃。
广泛用于胶体、乳液、蛋白质、纳米材料等体系的纳米粒度与 Zeta 电位分析，适用于化工、材料、医药、食品、环境等领域。

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