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X 射线衍射仪XRD
X 射线衍射仪XRD

仪器型号布鲁克D8；理学

项目简介

X射线衍射仪可以对样品进行物相定性和部分样品的定量分析，可以测定精确的晶胞参数、简单晶体的晶体结构、样品的结晶度、微晶的粒度。利用相应附件可以测定纳米粒度、薄膜厚度；可以进行斑点等小区域样品进行分析。

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