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透射电子显微镜TEM
仪器型号
Tecnai F30和Talos F200X TEM
项目简介
透射电镜在物理学、化学、生物学等基础科学研究中具有广泛应用。透射电镜能够提供纳米级分辨率的图像,用于研究纳米颗粒、纳米线和纳米薄膜的结构和形貌。通过电子衍射模式,透射电镜可以分析材料的晶体结构、晶格参数和缺陷。透射电镜可以观察材料界面和表面的微观结构,帮助理解材料的界面行为和表面特性。
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