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聚焦离子束双束电镜系统FIB-SEM
聚焦离子束双束电镜系统FIB-SEM

仪器型号Helios 5 CX DualBeam;Crossbeam550

项目简介

配置参数:
电子束: 0.6 nm@2 kV~15 kV,0.7 nm@1 kV
离子束:分辨率2.5 nm@30 kV,加速电压0.5 kV~30 kV,束流≤65nA
能谱仪:Si漂移探测器有效面积70 mm2,Mn Ka分辨率优于127 eV
气体源:W、C气体源
机械手: 移动精度优于100 nm
样品台:五轴优中心高精度马达台,6英寸晶圆基座

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