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四探针薄膜电阻测量仪
四探针薄膜电阻测量仪

仪器型号R54-200/R50

项目简介

四探针薄膜电阻测量仪,同时支持接触式四点探针(4PP)与非接触式涡流(EC)两种测量模式,兼容最大300mm样品尺寸,覆盖200mm有效测量面积。

应 用 :硅片掺杂;金属层厚度测试;晶圆片电阻率测试。



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