
仪器型号AWL046 / AWL068/AWL812
适用多种材质晶圆
Si / SiC / GaAs / GaN / InP / Glass
适用3寸-12寸晶圆
可对应平边及Notch
可对应多种卡匣类型
Open Cassette / Smif / FOUP / FOSB
精密光学系统
Pre-focus(预对焦)/ 精密金相光学系统
定制对应
根据客户需求,可对相应功能选择配置
如E-map、OCR、Pre-focus等
应用场景:检测微观缺陷,检查宏观瑕疵,测量关键参数,全流程工艺监控等。

一对一为您答疑解惑
立即扫码咨询