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半导体晶圆检查系统AWL046 / AWL068/ AWL812
半导体晶圆检查系统AWL046 / AWL068/ AWL812

仪器型号AWL046 / AWL068/AWL812

项目简介

适用多种材质晶圆

Si / SiC / GaAs / GaN / InP / Glass

适用3寸-12寸晶圆

可对应平边及Notch

可对应多种卡匣类型

Open Cassette / Smif / FOUP / FOSB

精密光学系统

Pre-focus(预对焦)/ 精密金相光学系统

定制对应

根据客户需求,可对相应功能选择配置

如E-map、OCR、Pre-focus等

应用场景:检测微观缺陷,检查宏观瑕疵,测量关键参数,全流程工艺监控等。


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